전기전자계측기

HIOKI

HIOKI

RM3542C

양산 검사를 고속·안정·저스트레스로

0.1 μΩ ~ 120.0000 MΩ

측정 시간: 최고속도 0.9 ms

0201 사이즈 초소형 부품에 대응하는 저스트레스 측정

칩 저항기 칩 페라이트 비즈 생산용

공정 편차를 가시화할 수 있는 ΔR 기능 탑재

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