주식회사 에이원텍

용접 저항 검사의 새로운 기준

1 nΩ 분해능을 통한 초저저항 측정

용접 직후 안정 측정 대응 (A-TC)

온도 변화 환경에서의 오프셋 억제 (A-OVC)

과전압 입력에 대한 보호 기능 (ACP)

EV/ESS 배터리 모듈, 팩의 버스바 연결 저항 측정

양산 검사를 고속·안정·저스트레스로

0.1 μΩ ~ 120.0000 MΩ

측정 시간: 최고속도 0.9 ms

0201 사이즈 초소형 부품에 대응하는 저스트레스 측정

칩 저항기 칩 페라이트 비즈 생산용

공정 편차를 가시화할 수 있는 ΔR 기능 탑재

고정밀 휴대용 저항계

µΩ부터 MΩ까지 측정 

용접 및 연결 품질을 고정밀도로 양불 판정

최소 측정 레인지 : 1000μΩ

최소 측정 레인지 정확도: 0.045%

최소 분해능 : 1 nΩ

최대 측정 전류 : 1A

저저항 측정에 대응하는 스테디셀러 모델

측정속도 : 최속 18ms

최소 분해능 : 1μΩ

초・저 션트 시대에 걸맞는 저항계

자동화기기・탑재 최적화 초고정밀도 고분해능

최소 분해능 : 0.01μΩ